Cuando es necesario la utilización de longitudes de onda diferentes a las del visible en técnicas interferométricas, la utilización de sensores con una amplia discriminación espacial, como las cámaras CCD, resulta limitada por los costos de estos dispositivos en este rango del espectro electromagnético. Una importante alternativa es el uso de sensores de silicio en disposición de cuadratura; estos elementos poseen una alta respuesta espectral en el infrarrojo y son de bajo costo. Se presenta en este trabajo un protocolo para aprovechar la limitada discriminación es-pacial de este tipo de detectores (cuatro elementos sensores) en técnicas interferométricas de corrimiento de fase. El protocolo desarrollado permite configurar el periodo y la inclinación de un sistema de franjas rectas, producidas por ejemplo en un interferómetro tipo Fizeau, de mane-ra tal que con una sola medida se obtenga un desfase espacial requerido entre cada uno de los sensores para emplear algoritmos de corrimiento de fase.

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