Sobre sustratos de vidrio se crecieron muestras de películas delgadas de aluminio por medio de una campana evaporadora a temperatura ambiente. Las muestras presentaron comportamiento metálico en las medidas de resistencia en función de la temperatura, con una resistividad de r (300 K) = 3.2 mW-cm. Esta medida fue realizada usando el método de cuatro puntas. Usando un espectrómetro de fibra óptica de la Ocean Optics, Inc. Se realizaron medidas de reflectancia y absorbancia en función de la frecuencia a temperatura ambiente en las regiones del visible y el infrarrojo cercano (400 a 1000 nm). De los datos obtenidos en las medidas de reflectancia y haciendo uso de las reglas de Kramer-Kronig pudimos calcular e y n para el aluminio.