Se realiza un estudio estadístico cuantitativo de imágenes de Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) en películas delgadas magnéticas del sistema La2/3Ca1/3MnO3, crecidas sobre sustratos monocristalinos de SrTiO3. Las imágenes de AFM dan información de la morfología superficial de la superficie una vez la película ha sido crecida. Para calcular, de la imagen digitalizada de AFM, los parámetros que describen la superficie, tal como rugosidad cuadrática media y longitud de correlación espacial, se diseñó un algoritmo que permite hacer el estudio estadístico de la superficie. En este trabajo se describe la técnica desarrollada y aplicada a películas de materiales óxidos.

A quantitative statistical study was done on Atomic Force microscopy (AFM) images of La2/3Ca1/3MnO3 thin films, grown on (100) oriented SrTiO3 substrates by sputtering technique a high oxygen pressures. From the digitized AFM-image can be calculated the roughness parameters by a statistical analysis using a specific designed algorithm. This work gives a detailed description of this algorithm.