En este trabajo se describe un procedimiento de cálculo para determinar las constantes ópticas y el espesor en películas delgadas. El método se basa en la simulación teórica de espectros de transmitancia experimentales y durante el proceso de cálculo se obtiene el coeficiente de absorción, el índice de refracción y la brecha de energía prohibida. El método permite calcular muestras que poseen bandas de absorción moderada. Durante el cálculo se obtiene inicialmente el espesor de la muestra a partir de la posición y número de máximos y mínimos en el espectro, luego es usado el modelo del oscilador simple de Wemple DiDomenico (W-D) para calcular el índice de refracción en toda la región del espectro. Finalmente se calcula el coeficiente de absorción. Se presentan resultados obtenidos en una película delgada de MoO3 que presenta una banda ancha de absorción en 780 nm aproximadamente.