En este trabajo se muestra que el perfil de índice de refracción de fibras ópticas se puede determinar analizando el patrón de campo cercano transmitido con el método de elementos finitos. Se presenta brevemente el principio del método y se evalua comparando los resultados obtenidos con medidas experimentales con el método RNF en un fibras de núcleo de silicio puro y para una fibra LEAF.

Palabras clave: Caracterización de fibras ópticas, Campo cercano, Método de elementos finitos.

In this work, we show that the refractive-index profile of optical telecommunication fibers can be determined by analyzing the transmitted near-field pattern with the finite element method. The principle of the method is briefly presented and evaluated by comparing the obtained results with experimental measurements obtained by the RNF and m -lines techniques on a pure-silica and LEAF single-mode .

Key words: Optical fiber characterization, Near field, Finite element method.