Resumenes Vol. 38 No.2 de 2006
 

ESTUDIO DEL EQUIPO DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X TEL-X-OMETER, TEL. 580

O. D. Gil Novoa, D. Martínez B, A. J. Barón González

Resumen

El fenómeno de difracción es el fundamento de algunas técnicas de caracterización de materiales entre las que se encuentra la Difracción de Rayos X (DRX), técnica a través de la cual se pueden estudiar materiales mediante el análisis cristalográfico de su estructura. En este trabajo se expone una descripción del equipo didáctico de difracción de rayos X TEL-X-OMETER TEL. 580, el estudio de la aplicabilidad tecnológica y científica del equipo, así como de su funcionabilidad pedagógica y didáctica través del diseño, elaboración, aplicación y evaluación de prácticas de laboratorio.

Palabras Claves: Difracción, TEL-X-OMETER 580, Ciencia..


Abstract

The diffraction phenomena is the background of some materials characterization techniques, the X Ray Diffraction (XRD) is between them, this is a technique through one can study materials by means of crystallographic analysis of its structure. In this work the description of TEL-XOMETER TEL. 580 XRD didactical equipment, the study of its technological appliance, as well as its pedagogical and didactical functionality are exposed through design, development, application and testing of laboratory experience.

Keywords: Diffraction, TEL-X-OMETER 580, Science.

 

Formatos Disponibles: Pdf