Resumenes Vol. 38 No.2 de 2006
 

ESPECTROMETRIA DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X

J. A. Cubillos M., J. G. Moncayo R., L.C. Jiménez B. , C. Otálora S., C. A. Parra R.

Resumen

La espectrometría de rayos x es un conjunto de técnicas que permiten detectar y cuantificar la composición de una muestra de material desconocido irradiándola con Rayos X, se caracteriza por el hecho de que la radiación resultante del análisis se descompone en sus diferentes longitudes de onda o espectros para el análisis sobre los elementos o compuestos que contiene la muestra. Los Rayos X de fluorescencia tienen una longitud de onda mayor que la de los Rayos X primarios, estos son característicos del material irradiado o radiador; su emisión siempre va acompañada de fotoelectrones y las longitudes de onda de estos rayos son independientes de la longitud de onda de la radiación primaria. 1

Palabras claves: espectrometria, fluorescencia, rayos x.


Abstract

x r ay s pectrometry is a set of techniques that allows to detect and quantify the sample composition of unknown material by its irradiation with X Rays. This technique is characterized by the fact that the resulting radiation from the analysis is decomposed in its different wavelengths or spectra for the analysis on the elements or compounds that the sample contains. The fluorescent X Rays have a wavelengths greater than those of primary X Rays, these are characteristic of irradiated or radiator material, their emission are always accompanied by photoelectrons and the wavelengths of this rays are independent from the primary radiation wavelengths. 1

Keywords: s pectrometry , fluorescent, x r ay

 

Formatos Disponibles: Pdf